天博本发明涉及一种拍摄设备和使用所述拍摄设备的拍摄方法。更具 体地,本发明涉及用于提供较好质量图像的拍摄设备和方法。
当使用图像拾取器件来拍摄对象时,有时需要调整作为被辐射在 图像拾取器件上的光量的膝光量。如果曝光量太多或者太小,则不能 获得清楚的图像,因此,重要的是适当地调整曝光量。另外,在闪光 拍摄期间,在打开/关闭快门之前发生闪光的初步光发射,通过光测量 传感器(例如光测量单元)来测量初步光发射的亮度,并且所述拍摄 设备在拍摄操作中计算由闪光需要的曝光量。
日本公开专利申请2007-20125公开了一种光学测量传感器,其 被安装在拍摄设备的主体中,并且可以在初步光发射操作中测量对象 的光量。在日本^^开专利申请2007-20125中,来自对象的光在初步光 发射操作中被在拍摄设备的主体中安装的快门反射,并且光学处理传 感器测量由快门反射的光。
但是,所述快门被安装在所述拍摄设备中接近透镜而不是图像拾 取器件(诸如电荷耦合器件(CCD)或者胶片)的图像拾取表面的位 置。因此,在快门和图像拾取表面之间存在空间。另外,聚焦透镜被 驱动来将对象图像聚焦(实现对焦状态)在图像拾取表面上。因此, 在传统的图像拾取设备中,即使在初步光发射操作中也不在快门的表面上实现对焦状态。因此,光学测量传感器测量入射而不是聚焦在快 门表面上的光,并且不能获取关于所述光的精确信息。
在光学测量传感器由一个或者多个单元形成的情况下,期望大致 地确定光分布或者光量。而且,当光学测量传感器的大小被减少或者 构成所述光学测量传感器的单元的数量被增加时,应当接收关于光的 精确信息,以使用所述光学测量传感器。
但是,因为光未被聚焦在快门表面上,因此在对象图像中的人或 者物体可能看起来被扩展,或者所述人或者物体的轮廓会变得模糊。 因此,在具有小尺寸或者由多个单元形成的光学测量传感器接收到由 快门反射的光时,不能高度精确地获得关于光的信息。
本发明的多个实施例提供了 一种拍摄设备和使用所述设备执行 的拍摄方法,其中,通过驱动聚焦透镜来将对象图像聚焦在图像拾取 表面附近的表面上来执行初步光发射操作,并且通过光测量单元来高 度精确地测量光的亮度。
按照本发明的一个实施例的一种拍摄设备包括对焦位置检测 器,用于检测聚焦透镜的对焦位置,以使可以将对象的图像聚焦在图 像拾取表面上;驱动控制器,用于控制聚焦透镜的驱动;反射构件, 其可以打开或者关闭,并且设置于辐射到图像拾取表面上的光的路径 上;以及,光测量单元,当设执行主要曝光操作之前对于对象执行初 步光发射操作时,测量由处于关闭状态的反射构件反射的对象图像的 光的亮度。在所述初步光发射操作中,驱动控制器将聚焦透镜驱动到 比聚焦透镜的对焦位置更接近对象的位置,或者驱动到比聚焦透镜的 对焦位置更接近图像拾取表面的位置。
另夕卜,可以在初步光发射操作中将聚焦透镜驱动到接近对象或者 CCD的图像拾取表面的位置,而不是聚焦透镜的对焦位置。而且,在 所述初步光发射操作中,光学测量单元可以测量被聚焦在对象侧或者 在图像拾取表面上并且由反射构件反射的图像的光的亮度。在所述初步光发射操作中,驱动控制器可以将聚焦透镜驱动到使 得对象图像可以被聚焦在反射构件的表面上的位置。反射构件的表面 可以被扩散处理。因此,在所述初步光发射操作中,光学测量单元可 以测量被聚焦在反射构件的表面上并且被反射构件反射的对象图像 的光的亮度。
而且,在初步光发射操作中,驱动控制器可以将聚焦透镜驱动到 使得可以将对象图像聚焦在光学测量单元上的位置。可以使用镜面加 工方法或菲涅耳镜处理方法来处理反射构件的表面。因此,在初步光
发射操作中,光学测量单元接收由反射构件的表面反射并且被聚焦在 光学测量单元上的光,以测量对象图像的光的亮度。
所述反射构件可以包括快门,其打开或者关闭以允许光被辐射在 图像拾取表面或者阻挡光到达图像拾取表面。因为 一般在拍摄设备中 使用的快门被用作反射构件,因此在拍摄设备中的元件的数量未增 加。另外,反射构件可以是将对象的图像反射在图像拾取表面附近的 任何构件。
在由驱动控制器控制聚焦透镜的驱动以使对焦位置检测器可以 检测聚焦透镜的对焦位置的一系列操作中,驱动控制器可以将聚焦透 镜驱动到比聚焦透镜的对焦位置更接近对象的位置,或者驱动到比聚 焦透镜的对焦位置更接近图像拾取表面的位置。因此,在由驱动控制 器控制聚焦透镜的驱动以使对焦位置检测器可以检测聚焦透镜的对 焦位置的 一 系列操作中,驱动控制器可以将聚焦透镜驱动到更接近对 象或者图像拾取器件的图像拾取表面的位置,而不是聚焦透镜的对焦 位置。
而且,在由驱动控制器控制聚焦透镜的驱动以使对焦位置检测器 检测聚焦透镜的对焦位置的 一 系列操作中,可以执行所述初步光发射 操作。因此,可以将所述初步光发射操作执行为由驱动控制器控制聚 焦透镜的驱动以使对焦位置检测器可以检测聚焦透镜的对焦位置的 一系列操作。
另外,按照一个实施例的一种拍摄方法包括步骤检测聚焦透镜的对焦位置,以使可以将对象的图像聚焦在图像拾取表面上;关闭可 以打开或者关闭、并且设置于辐射到图像拾取表面上的光的路径上的 反射构件;利用驱动控制器将所述聚焦透镜驱动到比聚焦透镜的对焦 位置更接近对象的位置,或者驱动到比聚焦透镜的对焦位置更接近图 像拾取表面的位置;并且,当比执行主要曝光操作之前对于对象执行 初步光发射操作时测量由处于关闭状态的反射构件反射的对象图像 的光的亮度。
所述反射构件可以包括快门,其允许光被辐射在图像拾取表面或 者阻挡光到达图像拾取表面。
因此,可以从上述内容明白,在按照本发明的所述实施例的拍才聂 设备和拍摄方法中,可以在驱动聚焦透镜以聚焦在不是图像拾取表面 的表面上后执行初步光发射,并且可以通过光学测量单元来精确地测 量亮度。
通过参见附图详细描述本发明的示例实施例,本发明的上述和其 他特征和优点将变得清楚,在附图中
视图3和4是图解按照本发明的多个实施例的图1的拍摄设备的操 作的示例的流程图5是示出按照本发明的一个实施例的在初步光发射模式中图1 的拍摄设备的状态的一个示例的示意截面视图6是按照本发明的一个实施例的在主要光发射模式中的图1 的拍摄设备的状态的一个示例的示意截面视图7是示出按照本发明的一个实施例的、在图1的拍摄设备中的 在对比度峰值和聚焦透镜的位置之间的关系的一个示例的图;以及图8是按照本发明的另一个实施例的拍摄设备的一个示例的示 意截面视图。
以下,通过参见附图解释本发明的优选实施例而详细描述了本发 明的示例实施例。在附图中的相似的附图标号表示相似的元件。
将参见图1和2来描述按照本发明的一个实施例的拍摄设备100 的一个示例。图1是拍摄设备100的一个示例的方框图,图2是拍摄 设备100的示意截面视图。
参见图1,这个实施例的拍摄设备100包括例如光学系统102, 光从外部入射在其上;驱动器104、 106和108,用于控制光学系统 102的操作;定时控制器110;电荷耦合器件(CCD) 112;关联双釆 样(CDS ) /放大器(AMP ) 114;以及,模拟/数字(A/D )转换器116。 拍摄设备100可以还包括图像输入控制器118、中央处理单元(CPU) 150、控制单元122、图像信号处理器124、视频随机存取存储器 (VRAM) 126、压缩处理器128、存储器130、显示单元132、液晶 显示器(LCD)驱动器134、记录介质控制器136、记录介质138、电 容器140、闪光控制器142和闪光发射单元144。
光学系统102可以包括透镜(未示出)、变焦机构103、光圏105 和聚焦透镜107。光学系统102将通过透镜的对象的图像聚焦在CCD 112上.变焦机构103可以包括沿着光轴前后移动以连续地改变焦距 的透镜。光圏105调整被入射在CCD 112上的光量。聚焦透镜107 沿着光轴前后移动,并且调整在CCD 112上的对象图像的聚焦状态。 而且,在这个示例中,第一驱动器104驱动变焦机构103,第二驱动 器106驱动光圏105,第三驱动器108驱动聚焦透镜107。
另外,光学系统102和驱动器104、 106和108可以被集成地安 装在拍摄设备100中,或者可以与拍摄设备100的主体分离地被配置, 以被拆解和替换。在这个配置中,驱动器108是驱动控制器的一个示 例。驱动器108将聚焦透镜107驱动到接近对象或者CCD 112的图像拾取表面,而不是由对焦位置检测器156检测的聚焦透镜107的对焦 位置。例如,在快门148的表面被扩散处理的情况下,驱动器108驱 动聚焦透镜107,以便可以将对象聚焦在快门148的表面上。
定时控制器IIO控制形成CCD 112的多个像素中的每个的曝光 时间,或者控制电荷的读取。CCD112可以由光电换能器形成,并且 按照入射在光电换能器上的光来产生电信号。另外,在这个实施例中, CCD112被用作图像拾取器件。但是,本发明不限于这种布置,并且 可以使用任何适当的装置。例如,互补金属氧化物半导体(CMOS) 器件或者其他成像器件可以取代CCD 112被用作图像拾取器件。
在这个示例中的CDS/AMP114包括CDS电路,用于去除在由 CCD112产生的电信号中包括的低频噪声;以及,放大器,用于将所 述电信号放大到特定的电平,所述CDS电路和放大器被彼此集成地 形成。在这个实施例中,所述CDS电路和所述放大器彼此集成地形 成在CDS/AMP 114中。但是,可以分离地形成所述CDS电路和所述 放大器。
A/D转换器116将在CCD 112中产生的模拟电信号转换为数字 信号。图像输入控制器118从CPU150接收操作命令,以控制由A/D 转换器116产生的图像的原始数据(例如输入图像数据)向存储器130 中的输入。
控制单元122可以包括电源开关、模式改变单元和快门按键,并 且用于通过用户设置快门速度或者ISO灵敏度。所述快门按键是用于 执行图像拾取操作的按钮。当例如按下一半快门按键时,执行用于将 聚焦透镜107驱动到对焦位置的自动聚焦(AF)操作,并且当完全按 下快门按键时,CCD 112的曝光发生,并且执行对象的图像拾取操作。
在这个示例中的VRAM 126是用于显示图像的存储器,并且具 有多个通道以便可以同时执行在显示单元132上的图像的写入操作和 图像的显示。压缩处理器128将输入图像数据的格式转换为联合图象 专家组(JPEG)格式或者Lempel-Ziv-Welch ( LZW )格式。
存储器130可以包括诸如同步DRAM ( SDRAM )的半导体存储器,并且暂时存储被拍摄的图像。存储器130的容量使得其可以存储 多个图像,并且存储器130也存储CPU150的操作程序。
图像信号处理器124从自CCD 112输出的图像数据计算自动对 焦操作的估计值(AF估计值)来作为对比度信息。另外,图像信号 处理器124补偿所述光量的增益,处理所述图像的边缘(轮廓加重处 理),并且相对于从CCD 112输出的数据控制白平衡。
显示单元132可以例如是LCD。显示单元132可以在执行图像 拾取操作之前显示从VRAM 126读取的图像(即实时视像),设 置拍摄设备100的菜单或者被拍摄的图像。LCD驱动器134驱动显示 单元132,并且控制显示单元132的输出。
记录介质控制器136控制向记录介质138上的图像数据的写入操 作或者在记录介质138上记录的图像数据或者设置信息的读取操作。 记录介质138可以由例如光学记录介质、光学磁盘、磁盘或者半导体 存储介质形成以记录拍摄的图像数据。而且,记录介质138可以从拍 摄设备100被拆卸。
电容器140暂时累积电功率,以保证在闪光发射单元144中发光 所需要的功率容量。闪光控制器142控制闪光的光发射,并且具体上 控制与CCD 112的复位操作或者快门148的打开/关闭操作相关联的 光发射。闪光发射单元144用于当在晚上或者黑处执行图像捕获操作 时照亮对象。当闪光控制器142从CPU150接收信号并且向闪光发射 单元144输出光发射命令时,控制闪光发射单元144的光发射。
而且,在这个示例中,闪光发射单元144在执行主啄光操作之前 执行初步光发射操作,并且在主曝光操作期间执行主光发射操作。闪 光发射单元144包括发出光的Xe管和用于将光辐射到对象上的遮光 器(shade),并且菲涅耳透镜146被安装在闪光发射单元144之前 的对象侧上。
CPU 150相对于CCD 112天博、 CDS/AMP 114等执行操作和发出用 于控制信号的操作,并且相对于CCD 112的操作执行操作和发出用于 控制操作系统的命令。在这个实施例中,仅仅一个CPU150被包括在拍摄设备100中。但是,可以使用任何数量的CPU。即,可以安装多 个CPU,并且在这种情况下,可以通过不同的CPU来分别执行信号发送和操作命令的输出。在这个示例中的CPU 150包括适当自动曝光(AE )级计算器152、 曝光控制器154和对焦位置检测器156。适当AE级计算器152执行 拍摄的自动曝光,并且获得曝光值(EV )。适当AE级计算器152计 算AE (自动曝光)估计值。所述AE估计值也可以被图像信号处理 器124计算。当根据由曝光控制器154计算的AE啄光值而拍摄对象时,膝光 控制器154确定光圏值和快门速度。第二驱动器106或者快门148的 驱动器被所确定的光圏值和快门速度控制。当图像光从对象入射在CCD 112上时,对焦位置检测器156从 在图像信号处理器124中产生的图像数据的自动对焦操作的估计值检 测对象的聚焦位置。当拍摄对象时,快门148控制CCD 112的曝光时 间。参见图2,快门148与CCD 112的图像拾取表面平行或者大致平 行地被布置,并且被打开或者关闭以向图像拾取表面上辐射光或者阻 挡光到达图像拾取表面。快门148在初步光发射操作期间关闭,并且在主光发射操作期间 打开。在此,使用用于处理金属表面的扩散处理(diffusion process) 来扩散处理快门148的表面。另外,快门148是反射构件的一个示例。 因为一般被安装在拍摄设备中的快门被用作反射构件,因此在拍摄设 备中的元件的数量未增加。另外,反射构件在当前的实施例中是快门 148;但是,本发明的实施例的反射构件不限于快门148。可以将对象 的图像反射在CCD 112的图像拾取表面附近的其他构件可以被用作 反射构件。光学测量传感器164是光学测量单元的一个示例,并且测量由快 门148反射的对象图像的光的亮度。根据所述光学测量值和光圏值或 者适当的AE估计值来确定在闪光发射单元144的主光发射操作期间 的光发射的数量。透镜162可以被安装在光学测量传感器164和快门148之间的光 路上,并且透镜162将已经被聚焦在快门148的表面上的对象的图像 再一次聚焦在光学测量传感器164上。接着,将参见图3-7来描述在图l和2中所示的实施例的拍摄设 备100的示例操作。图3和4是图解按照本发明的多个实施例的拍摄设备100的操作 的示例的流程图,图5是拍摄设备100的示意截面视图,用于示出按 照本发明的一个实施例的在初步光发射操作中的拍摄设备100的状 态。图6是示出按照本发明的一个实施例的在主光发射操作中的拍摄 设备IOO的状态的一个示例的示意截面视图,图7是示出按照本发明 的一个实施例的、在对比度峰值和在拍摄设备100中的聚焦透镜107 的位置之间的关系的图。参见图3,当控制单元122的快门按键被按下时,拍摄设备100 的拍摄操作在步骤S102开始。接着,适当AE级计算器152通过拍 摄设备100的自动啄光而获得EV,并且计算AE估计值以确定是否 需要闪光发射单元144的光发射。否则,可以在步骤104中按照由用 户设置的闪光发射单元144的强制发射操作而确定是否需要闪光发射 单元144的发射。在需要闪光发射单元144的光发射的情况下,在步骤S106中确 定是否电容器140已经累积了在闪光发射单元144中发光所需要的能 量。如果确定电容器140还没有累积足够的能量,则拍摄设备100进 入待机模式,直到充足了能量。如果确定电容器140已经完全地累积 了所需要的能量,则在步骤S108,视频AF模式开始。在此,快门148 被打开以允许对象的图像被入射在CCD 112上。另外,在步骤SllO,图像信号处理器124将所述AF估计值计 算为对比度信息,并且对焦位置检测器156检测AF估计值的峰值以 确定对焦位置(P)。例如,如图7中所示,当聚焦透镜107位于点 A时,聚焦透镜107被向在图7中所示的近端位置驱动,并且在聚焦 透镜107到达所述近端位置后,向oo端驱动聚焦透镜107。此时,以任意的间隔来采样AF估计值。另外,聚焦透镜107的位置P——在 此AF估计值到达其峰值——被确定为对焦位置,以便检测所述峰值, 聚焦透镜107被连续地向位置P后的侧(向图7中的oo端部分)驱动, 以同时采样所述AF估计值。另外,当通过检测峰值位置P而确定对焦位置时,在图7的点D 停止聚焦透镜107的驱动。然后,在步骤S112,聚焦透镜107被移动 到点C,以便可以将对象的图像聚焦在快门148上。另外天博,按照在拍 摄设备IOO中在快门148的表面和CCD 112的表面之间的距离来确定 在点C和点P之间的距离,其是拍摄设备100的一个特征值。在确定位置P后,预先在拍:t聂设备100中存储点C和点P之间 的距离,以使可以将对象的图像聚焦在快门148的表面上。另外,当 前的实施例可以被应用到采样在oo端位置周围的AF估计值的序列。接着,在步骤S114,从视频AF模式的结果确定初步光发射操 作的光量或者初步光发射操作的曝光量。其后,为了执行初步光发射 操作在步骤S116中,如图5中所示,快门148被关闭。另外,在步 骤S118中,光学测量传感器164测量在与初步光发射操作的条件相 同的条件下的对象图像的光的亮度,而不使用闪光发射单元144执行 初步光发射操作。然后,在步骤S120,闪光发射单元144执行初步光 发射操作。此时,在步骤S122,光学测量传感器164测量由快门149 反射的对象图像的光的亮度。另外,在步骤S124,从在不执行初步光 发射操作的情况和执行初步光发射操作的情况之间的亮度差提取闪 光的光分量,并且确定主光发射操作的光发射量和啄光控制值(步骤 S126)。然后,在步骤S128,聚焦透镜107被移动到在前面的视频AF 模式中确定的对焦位置P,并且在步骤S130准备用于执行拍摄操作 的膝光控制。可以以三种方式来执行通过控制曝光而执行的入射光的 调整,即光圏105的控制、快门148的速度的控制和增益的控制。即, 笫二驱动器106驱动光圏105,定时控制器110 (例如定时发生器; TG)设置快门速度,并且CDS/AMP 114控制增益。其后,如图6中所示,在步骤S132中,快门148被打开以执行 CCD 112的膝光,并且在步骤S134,以由闪光发射单元144执行的 主光发射操作来捕获图像。另外,在步骤S136,快门148被关闭以终 止所设置的曝光。接着,压缩处理器128在步骤S138处理图像,并 且在步骤S140,在记录介质138中记录图像数据。另一方面,参见图4,在确定不需要由闪光发射单元144的光发 射的情况下,在步骤S142,快门148被打开以开始视频AF模式。在 步骤S144,图像信号处理器124计算所述AF估计值来作为对比度信 息,并且对焦位置检测器156检测所述AF估计值的峰值以确定对焦 位置P。然后,在步骤S146,聚焦透镜107被移动到在前面的视频AF 模式中确定的对焦位置P天博,并且在步骤S148,准备用于执行拍摄操作 的膝光的控制。可以以三种方式来执行通过控制曝光而执行的入射光 的调整,即光圏105的控制、快门148的速度的控制和增益的控制。 即,第二驱动器106驱动光圏105,定时控制器110 (例如定时发生 器;TG)设置快门速度,并且CDS/AMP 114控制增益。其后,快门148被打开以执行CCD 112的曝光(步骤S150), 并且在步骤S152,以由闪光发射单元144执行的主光发射操作来捕获 图像。另外,在步骤S154,快门148被关闭以终止所设置的啄光。接 着,压缩处理器128在步骤S156处理图像,并且在步骤S158,在记 录介质138中记录图像数据。当完成上述系列的拍摄操作时,处理在 步骤S160返回到待机模式。按照这个实施例,在初步光发射操作中,将聚焦透镜107驱动到 使得可将对象图像聚焦在快门148上的位置,而不是将对象图^^聚焦 在CCD 112的图像拾取表面上的位置。因此,光学测量传感器164 可以测量在聚焦状态中的对象图像的光的亮度,因此可以高度精确地 确定所需要的主光发射量。另外,驱动器108将聚焦透镜107驱动到比聚焦透镜的对焦位置 更接近对象的位置。而且,在驱动聚焦透镜107的系列操作中,由第三驱动器108执行初步光发射操作,以使对焦位置检测器156可以检 测聚焦透镜107的对焦位置P。如上所述,因为在视频AF模式的序 列中执行初步光发射操作,因此,可以减少从按下快门按键到由快门 的148的实际打开/关闭操作执行的曝光的时滞。上面参见
了本发明的实施例;但是,本发明不限于这些 实施例。而是,本领域内的技术人员可以在权利要求公开的范围内实 现各种修改,并且所述修改也被包括在本发明的技术范围中。例如,在如上所述的一个实施例中,拍才聂设备100的快门148 的表面被扩散处理。但是,可以以任何适当的方式来建立快门148的 表面。图8是图解按照本发明的另一个实施例的拍摄设备200的示意 截面视图。在图8中图解的拍摄设备200的快门248的表面被使用镜 面加工方法处理,以将对象图像向光学测量传感器164反射。在此, 快门248被倾斜以向光学测量传感器164反射光。另外,在快门248 包括两个或者多个片的情况下,在所述片之间安装遮光阀249。而且,在图8中图解的实施例中,在光学测量传感器164之前安 装的透镜162是中继光学系统,并且被控制使得将对象图像聚焦在光 学测量传感器164的表面上。另外,如图2中所示,快门148可以与 CCD 112平行地被安装,并且可以使用菲涅耳镜处理方法来处理快门 148的表面,以便可以将图像向光学测量传感器164反射,而不必像 在图8的拍摄设备200的快门248中那样倾斜快门148。在由使用镜面加工方法或者像在当前实施例中那样使用菲涅耳 镜处理方法处理的快门248的表面反射对象图像的情况下,在初步光 发射操作中,聚焦透镜107被驱动向接近图像拾取表面的位置,而不 是聚焦透镜的对焦位置。在此,所述对焦位置是这样的聚焦透镜位置, 通过其,对象图像被聚焦在CCD 112的图像拾取表面上,并且对象图 像被聚焦在光学测量传感器164的表面上。此时,光学测量传感器164 可以测量在聚焦状态中的对象图像的光的亮度,因此,可以精确地计 算主光发射量。虽然已经参考本发明的示例实施例而具体示出和描述了本发明,但是本领域内的技术人员可以明白,在不脱离由所附的权利要求限定 的本发明的精神和范围的情况下,可以在其中进行在形式和细节上的 各种改变。
1.一种拍摄设备,包括对焦位置检测器,用于检测聚焦透镜的对焦位置天博,以将对象的图像聚焦在图像拾取表面上;驱动控制器,用于控制所述聚焦透镜的驱动;反射构件,其打开或者关闭,并且设置于辐射到所述图像拾取表面上的光的路径上;以及,光测量单元,当执行主要曝光操作之前对于对象执行初步光发射操作时,测量由处于关闭状态的所述反射构件反射的对象图像的光的亮度,其中,在所述初步光发射操作中,所述驱动控制器将所述聚焦透镜驱动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近对象的位置,或者驱动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近图像拾取表面的位置。
2. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,在所述初步光发射操作 中,所述驱动控制器将所述聚焦透镜驱动到使得将对象图像聚焦在所 述反射构件的表面上的位置。
4. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,在所述初步光发射操作 中,所述驱动控制器将所述聚焦透镜驱动到使得将对象图像聚焦在所 述光学测量单元上的位置。
5. 按照权利要求4的拍摄设备,其中,使用镜面加工方法或菲 涅耳镜处理方法来处理所述反射构件的表面。
6. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,所述反射构件包括快门天博, 其打开或者关闭以允许光被辐射在所述图像拾取表面或者阻挡光到 达所述图像拾取表面。
7. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,在由所述驱动控制器控 制所述聚焦透镜的驱动以使所述对焦位置检测器能够检测所述聚焦透镜的对焦位置的一系列操作中,所述驱动控制器将所述聚焦透镜驱 动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近对象的位置,或者驱动到比所 述聚焦透镜的对焦位置更接近所述图像拾取表面的位置。
8. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,在由所述驱动控制器控 制所述聚焦透镜的驱动以使所述对焦位置检测器检测所述聚焦透镜 的对焦位置的一系列操作中,执行所述初步光发射操作。
9. 按照权利要求1的拍摄设备,其中,所述对焦位置检测器检 测自动对焦估计值的峰值以确定所述对焦位置。
10. 按照权利要求l的拍摄设备,其中,在所述初步光发射操作 后,所述驱动控制器将所述聚焦透镜驱动到用于捕获图像的对焦位 置。
11. 一种拍摄方法,包括检测聚焦透镜的对焦位置,以将对象的图像聚焦在图像拾取表面上;关闭设置于辐射到所述图像拾取表面上的光的路径上的反射构件;将所述聚焦透镜驱动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近对象 的位置,或者驱动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近所述图像拾取 表面的位置;并且,当执行主要膝光操作之前对于对象执行初步光发射操作时测量 由处于关闭状态的所述反射构件反射的对象图像的光的亮度。
12. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,在所述初步光发射操 作中,将所述聚焦透镜驱动到使得将对象图像聚焦在所述反射构件的 表面上的位置。
13. 按照权利要求12的拍摄方法,其中,所述反射构件的表面 被扩散处理。
14. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,在所述初步光发射操作中,量单元上的位置,
15. 按照权利要求14的拍摄方法,其中,使用镜面加工方法或 菲涅耳镜处理方法来处理所述反射构件的表面。
16. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,所述反射构件包括快 门,其允许光被辐射在所述图像拾取表面或者阻挡光到达所述图像拾 取表面。
17. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,在控制所述聚焦透镜 的驱动以使检测所述聚焦透镜的对焦位置的 一 系列操作中,将所述聚 焦透镜驱动到比所述聚焦透镜的对焦位置更接近对象的位置,或者驱 动到所述聚焦透镜的对焦位置更接近所述图像拾取表面的位置。
18. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,在控制所述聚焦透镜 的驱动以使检测所述聚焦透镜的对焦位置的一系列操作中,执行所述 初步光发射操作。
19. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,所述检测包括检测自 动对焦估计值的峰值以确定所述对焦位置。
20. 按照权利要求11的拍摄方法,其中,在所述初步光发射操 作后,将所述聚焦透镜驱动到用于捕获图像的对焦位置。
一种拍摄设备包括对焦位置检测器,用于检测聚焦透镜的对焦位置,以将对象的图像聚焦在图像拾取表面上;驱动控制器,用于控制聚焦透镜的驱动;反射构件,其打开或者关闭,并且设置于辐射到图像拾取表面上的光的路径上;以及,光测量单元,当执行主要曝光操作之前对于对象执行初步光发射操作时,测量由处于关闭状态的反射构件反射的对象图像的光的亮度。在初步光发射操作中,驱动控制器将聚焦透镜驱动到更接近对象的位置或者更接近图像拾取表面的位置而不是驱动到由对焦位置检测器检测的聚焦透镜的对焦位置。